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分析测试中心

所属单位:分析测试中心

放置地点:分析测试中心分析测试中心楼116

仪器负责人:许方(138****0421)

使用状态: 空闲

设备状态: 关机

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1750000.00元
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仪器信息

21043900
X射线衍射仪
中国
PANalytical公司
2014-03-20
2026-03-20
荷兰帕纳科PANalytical B.V
仪器所属

分析测试中心
分析测试中心
分析测试中心分析测试中心楼116
许方(138****0421)
技术指标

计费标准

开机费: 免 物相检测: 150元/样 (若需后续数据处理与分析,另加收费100~200元) 单样检测时间超过0.5h按小时计费: 300元/小时 薄膜物相检测: 150元/样 薄膜厚度检测: 200元/样 小角散射检测: 200元/样 织构检测: 400元/样 应力检测: 400元/样 备注:1.校内师生科研课题样品检测,按标准检测费的30%收取费用,内样一般只出具检测结果,出具正式报告需按标准收费; 2. 加急样收费需加收10%; 3. 暑假期间校内师生科研课题检测按标准检测费的50%收取费用; 4. 寒假期间校内师生科研课题检测按全额收取费用。

服务内容

用户须知

请务必在备注里填写样品名称、测试角度及其他测试要求。

附件及配置

注意事项

Empyrean 型X射线衍射仪送样要求

粉末衍射:

理想样品颗粒在5-10 微米(或过320目筛子)。一般可以放宽到200目。请自行提前将样品破碎并研磨好再送样。大颗粒样品衍射图可能存在峰劈裂等异常现象,如果样品不合要求,我们无法保证数据质量。

薄膜物相:

薄膜有一定尺寸(〉5*5mm2),如果不能直接夹在平板样品台上,请额外提供一块同厚度的基板(10*5 mm2左右)。

高度择优取向的薄膜不适合用掠入射法测量物相,请申请粉末衍射光路测量。

薄膜厚度:

薄膜有一定尺寸(〉10*10mm2),如果不能直接夹在平板样品台上,请额外提供一块同厚度的基板(10*5 mm2左右)。

薄膜应为表面粗糙度接近纳米级的平面(曲面无法测量)。膜与基板界面应清晰完整,二者电子密度有一定差异。

块材表面残余应力:

样品应为上下表面平行的片或块状样品,如果已知主应力方向,请标出。样品重量不能超过2kG,直径在20-120mm间,厚度在300um至30mm间(最好小于10mm)。请在测量前提供样品物相信息。

高度择优取向的样品有可能无法得到应力信息。

块材织构:

样品应为上下表面平行的片或块状样品,样品重量不能超过2kG,直径在20-120mm间,厚度在300um至30mm间(最好小于10mm)。

请在测量前提供样品物相信息,并根据行业要求明确极图对应的晶面指数(如(111)等)及对应的2theta角度。

小角散射:

样品应为颗粒小于100nm的纳米材料,检测其粒度分布。


使用说明

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